高并行測(cè)試能力
3650-S2測(cè)試系統(tǒng)具有強(qiáng)大多功能的并行管腳電路（PE），因此可以同時(shí)在多個(gè)管腳進(jìn)行相同的參數(shù)測(cè)試。3650-S2將64個(gè)數(shù)字通道管腳集成到一張LPC單板上，每張LPC單板包含16顆4通道的時(shí)序發(fā)生器的高性能Chroma PINF芯片。
單板上集成管理信號(hào)分配和數(shù)據(jù)讀出的控制芯片，因此減少了測(cè)試機(jī)系統(tǒng)控制器的負(fù)擔(dān)。3650-S2采用 any-pin-to-anysite mapping 設(shè)計(jì)，提供高達(dá) 32 sites 的高并行測(cè)試能力，通過(guò)靈活直觀地資源分配來(lái)促進(jìn)大規(guī)模量產(chǎn)。
靈活的配置與廣泛的應(yīng)用覆蓋范圍
半導(dǎo)體制造為一發(fā)展迅速前進(jìn)的產(chǎn)業(yè)，生產(chǎn)設(shè)備須能使用于多個(gè)產(chǎn)品型號(hào)更替與應(yīng)用領(lǐng)域，以延長(zhǎng)設(shè)備使用期限。 Chroma 3650-S2提供AD/DA轉(zhuǎn)換器測(cè)試、ALPG供內(nèi)存測(cè)試、高電壓PE、Multi-SCAN測(cè)試及模擬測(cè)試等多種可選配功能，靈活的配置確保其能應(yīng)對(duì)未來(lái)的測(cè)試需求。
Chroma 3650-S2測(cè)試系統(tǒng)能輕松整合第三方廠商為特定應(yīng)用所開(kāi)發(fā)的相關(guān)儀器設(shè)備，彈性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使其能涵蓋測(cè)試的裝置更廣泛，擴(kuò)展了測(cè)試的覆蓋范圍。
占地面積小
Chroma 3650-S2采用風(fēng)冷式散熱及高度集成的測(cè)試頭設(shè)計(jì)，占地面積小卻能提供高高產(chǎn)量。透過(guò)選配不同的支架，3650-S2可以應(yīng)用于晶圓或封裝測(cè)試。
CRISP 完整軟件直觀操作環(huán)境
Chroma 3650-S2 采用Chroma整合軟件平臺(tái)CRISP，這是一套易于操作且功能強(qiáng)大的軟件工具，讓使用者可以高效地進(jìn)行測(cè)試開(kāi)發(fā)，其功能涵蓋調(diào)試、量產(chǎn)及數(shù)據(jù)分析等，整合了測(cè)試程序開(kāi)發(fā)、測(cè)試執(zhí)行控制、數(shù)據(jù)分析、測(cè)試機(jī)管理等所有軟件功能，采用Microsoft Windows操作系統(tǒng)及C++程序語(yǔ)言，提供使用者強(qiáng)大、快速和友善操作的GUI工具。
在測(cè)試程序整合開(kāi)發(fā)環(huán)境（Project IDE tool）內(nèi)，測(cè)試開(kāi)發(fā)人員可以在標(biāo)準(zhǔn)模板、自定義模板和使用C++程序語(yǔ)言的編輯器之間輕松轉(zhuǎn)換，快速創(chuàng)建測(cè)試程序并自動(dòng)擴(kuò)展至多工位以便進(jìn)行并行測(cè)試，此外，如果需從其他測(cè)試平臺(tái)轉(zhuǎn)移至3650-S2，CRISP還提供測(cè)試程序和測(cè)試向量轉(zhuǎn)換工具，除了提升設(shè)備整合開(kāi)發(fā)彈性，也能降低轉(zhuǎn)移的時(shí)間成本。測(cè)試程序執(zhí)行控制器可以在System Control tool和Plan Debugger tool這兩種工具之間切換，讓使用者在量產(chǎn)或工程調(diào)試模式都能有效率地操作，使用者可以在Plan Debugger tool內(nèi)透過(guò)設(shè)置 breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch及variablemodify來(lái)執(zhí)行測(cè)試程序的進(jìn)程。
CRISP提供豐富軟件工具來(lái)進(jìn)行工程調(diào)試和數(shù)據(jù)分析，包含Datalog、Waveform 及 Scope 工具可以清楚的顯示測(cè)量數(shù)據(jù)和數(shù)字波型，SHMOO 和Pin Margin工具可以透過(guò)自動(dòng)或手動(dòng)模式輕松地進(jìn)行工程調(diào)試以找出邊沿參數(shù)，Wafer Map、Summary、Histogram 及STDF這些工具可以有效幫助搜集測(cè)試結(jié)果和分析測(cè)試指標(biāo)，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor 工具提供實(shí)時(shí)工程調(diào)試的進(jìn)階功能，并且在不影響測(cè)試或調(diào)整源文件的狀況下，允許用戶調(diào)整測(cè)試條件或測(cè)試向量。另外，CRISP還為模擬測(cè)試和ALPG選配功能提供 ADDA tool 和 Bit Map tool，運(yùn)用 ADDA tool 時(shí)，用戶不但可以透過(guò)圖形化工具來(lái)檢視AD/DA的測(cè)試結(jié)果，還能輕松自行創(chuàng)建ADC向量。這套強(qiáng)大的GUI工具可以完整地滿足你對(duì)于工程調(diào)試和生成測(cè)試報(bào)告的所有功能需求。
操作員界面（OCI）是使用于量產(chǎn)的操作界面，它能簡(jiǎn)化并確保量產(chǎn)測(cè)試的正確運(yùn)作，在讓操作員操作OCI之前，工程師可以事先在量產(chǎn)設(shè)置頁(yè)面（Production Setup）設(shè)定好量產(chǎn)時(shí)所需的相關(guān)參數(shù)，后續(xù)當(dāng)操作員使用OCI時(shí)，只需選擇設(shè)定好的計(jì)劃即可執(zhí)行量產(chǎn)測(cè)試。
